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MINI卷对卷涂敷设备
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四探针测试系统(for 300/450mm wafer)
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产品描述
显示器件各种光学特性的自动测试
M7000自动I-V-L测试系统用于显示设备的多通道测试,具有普通的光学探测器,如光谱仪或色度计,通过三轴定位器自动改变其测量位置。测试项目涵盖了广泛的显示测试领域,不仅包括显示器件的基本特性,还包括其随时间的长期变化,包括寿命测量。根据功率驱动方式的不同,该系统分为三个子模块:单元器件和PMOLED面板的PMX、AMOLED面板的AMX和带有驱动芯片的OLED模块的MDX。
-适用于OLED (器件,Panel, 模组)
-多通道 I-V-L & 寿命测试
-亮度/色度/光谱...测试
-电流/功率/量子效率测试
-自动对位 & 自动聚焦控制
-可进行独立温度控制
-阻抗测试
-可视角测试
-影像残留测试